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摘 要:由于InAs/GaSb II类超晶格材料有较高的表面态密度, 易在表面生成导电氧化层, 在将其制备成红外器件的过程中, 首先要解决钝化问题。 钝化效果和覆盖膜层质量对红外器件的表面漏电和噪声有很大影响。 使用阳极氟化加硫化锌的方法, 对中短波双色InAs/GaSb超晶格进行钝化, 使用俄歇电子能谱测试证实了阳极氟化的可靠性, 使用77 K下的 J-V 测试结果, 对比证实了氟化的钝化效果和对漏电流密度的改善效果。(剩余9471字)
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InAs/GaSb超晶格中短波双色探测器新型钝化方法研究
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