p型PERC双面单晶硅光伏组件的PID研究

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摘 要：对p型PERC双面单晶硅光伏组件在负偏压、正偏压下的电势诱导衰减（PID）效应进行了深入研究，并对此类光伏组件背面发生PID效应后的电性能恢复情况进行了研究。研究结果表明：1）在-1500 V偏压下进行PID测试后，在标准测试条件（STC）下，96 h PID测试后此类光伏组件背面的电性能急剧下降，正面的电性能也受到明显影响；在200 W/m2太阳辐照度条件下，此类光伏组件正面和背面的电性能损失更加明显。（剩余13093字）

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