基于线性剪切空间调制快拍成像测偏系统的压缩感知重构方法

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中图分类号:TN256 文献标识码:A

0 引言

成像测偏技术是一种利用光的偏振特性来获取目标光学特性(如材质、结构、表面粗糙度)的成像技术[1]。该技术借助偏振片或其他偏振器件对光的偏振状态进行控制,通过分析目标在不同偏振光下的反射、透射或散射特性,可获取目标物体的外观轮廓、内部构造、材质属性等信息。(剩余7189字)

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