基于X 射线荧光光谱分析水稻籽粒离子组

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摘要： 【目的】水稻籽粒离子组通常采用电感耦合等离子体质谱（ICP-MS） 和电感耦合等离子体发射光谱（ICPOES）等技术进行分析，需要破坏性取样且样品前处理过程复杂。X 射线荧光光谱法（XRF） 一般无需进行样品处理，可以快速无损地检测样品中的元素含量。本研究建立和优化了利用XRF 进行水稻籽粒离子组分析的方法。（剩余14789字）

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