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第一作者简介：贺彪（1979-），男，高级工程师。研究方向为LTCC技术。
DOI：10.19981/j.CN23-1581/G3.2024.16.038
摘 要：对某Ku频段4通道TR组件在后续客户使用过程中出现的异常导通现象，进行故障定位。通过机理分析与各种检测手段，认为在电磁场、温度、湿度等综合应力作用下LTCC基板内部存在银离子迁移导致的绝缘电阻下降甚至短路等失效模式是造成该TR组件异常导通的根本原因。（剩余6433字）
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基于LTCC技术的TR组件失效分析
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