基于FPGA的DDR控制器自动化测试平台研究

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摘要：基于现场可编程门阵列‌（FPGA）的双倍数据速率（DDR）控制器自动化测试平台，可有效提升DDR控制器的测试效率和质量，为工业互联网应用奠定坚实基础。该平台采用设备层、平台层、应用层的三层架构设计，设备层负责DDR控制器的底层测试与数据采集，平台层实现云边协同的数据处理与智能分析，应用层提供可视化的人机交互界面。（剩余6245字）

试读结束

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