PERC单晶硅太阳电池的EL图像铝主栅发黑原因的研究

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中图分类号：TM615 文献标志码：A

0引言

目前，电致发光（EL）检测和光致发光（PL）检测是两种检测PERC单晶硅太阳电池缺陷的常用手段。PL检测是使用光源（比如：LED灯、激光）照射硅片表面激发非平衡载流子，部分电子与空穴复合后，以光子的形式释放多余能量，形成PL现象，然后对生成的PL图形进行分析；PL图形分析使用高分辨率的电荷耦合器件（CCD）摄像头接收发光光谱并形成2D图像，是1种非接触式、快速的测试手段。（剩余7447字）

试读结束

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