存储器故障测试算法分析与研究

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摘要：存储器应用广泛，使用量大，发展迅速，随着近年来存储芯片容量不断增大，故障检测难度与成本也逐渐上升。从存储器的故障模型和测试技术出发，对比分析了不同测试算法的特点，以便在实际检测中选择合理的测试算法，同时提出了一种改进型的测试算法，在基本不改变测试时间长度的情况下增加了故障检测类型，是一种简单可行的方法。（剩余4367字）

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