基于恒电容表面络合模型预测土壤中As（V）吸附行为研究

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摘要：吸附是控制As在土壤中迁移的重要过程之一，为了预测As（V）在土壤中的吸附过程，使用恒电容表面络合模型（CCM）模拟As（V）在土壤中的吸附行为，获取As（V）在土壤上吸附的表面络合常数，建立土壤基本理化性质（pH、有机质、碳酸钙、无定形铁，铝艋、总铁）与As（V）表面络合参数的线性回归模型，以阐明As在土壤中吸附的主控因子。（剩余5209字）

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