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中图分类号：O322;O175 文献标志码：A
Dynamic Buckling Analysis of Wrinkled Film Substrate Structure under the Thermal Effect*
Li Wenjie1Bi HaohaolZhang Xingang1Yao（剩余11255字）
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温度场下波纹型薄膜基底结构的动态屈曲分析
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