基于RT-YOLO-V5的芯片外观缺陷检测

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摘    要： 针对传统的人工芯片检测方法效率低、过分依赖人为操作且误检率高等产生的问题，提出了一种基于Res-CBS模块与增加微检测层（Tiny-scale detection layer）的RT-YOLO-V5检测方法用于检测芯片外观缺陷。首先搭建了图像采集系统，并制作了芯片外观缺陷检测数据集。（剩余14546字）

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